产品介绍：

激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。 PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。 PG15-J型激光平面干涉仪工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。 主要技术参数： 1、第一标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。 2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm 不平度小于0.03μm(λ/20)。

产品特点：

PG15-J型激光平面干涉仪工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。